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共 11 个产品

  • 霍尔效应测试系统-简介

           我们公司深耕霍尔效应测试设备领域，凭借二十余年的技术积累和创新能力，形成了完整的自主研发、生产与应用体系。我们的霍尔效应测试设备涵盖多种类型，从基础实验室教学仪器到高精度科研级测试系统，再到工业级材料测试设备，能够满足不同领域的测试需求。
    通过不断优化测试系统的功能和性能，我们的霍尔效应测试设备正逐步成为国内外半导体材料研究、教学及产业应用的重要支撑工具，为材料科学、电子工程、物理研究等领域提供更全面、精准的测量解决方案。
           多年来，我们始终致力于推动中国半导体材料行业的发展，通过不断优化产品性能，提高测试效率，满足日益复杂的科研及工业需求。同时，我们也积极推动产学研合作，与国内外多所高校及科研机构建立了紧密的合作关系，共同促进霍尔效应测试技术的发展与应用，为行业的创新突破贡献力量。

    넶88 ¥ 0.00

  • CH-30霍尔效应测试系统

           本仪器系统由永磁体、高精度恒流源高精度电压表、霍尔效应样品支架、标准样品、高精度高斯计和系统软件组成。为本仪器系统专门研制的CH-320效应仪将恒流源，六位半微伏表及霍尔测量复杂的切换继电器——开关组装成一体，大大减化了实验的连线与操作。CH-320可单独做恒流源、微伏表使用。用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数，而这些参数是了解半导体材料电学特性必须预先掌控的，因此霍尔效应测试系统是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性必备的工具。 实验结果由软件自动计算得到，可同时得到体载流子浓度(Bulk Carrier Concentration)、表面载流子浓度(Sheet Carrier Concentration)、迁移率(Mobility)、电阻率(Resistivity)、霍尔系数(Hall Coefficient)、磁致电阻(Magnetoresistance)等等。

    넶374 ¥ 0.00

  • CH-50A霍尔效应测试系统

          本仪器系统由电磁铁、电磁铁电源、高精度恒流源、高精度电压表、霍尔效应样品支架、标准样品、系统软件组成。为本仪器系统专门研制的 CH-320A 效应仪将恒流源，六位半微伏表及霍尔测量复杂的切换继电器——开关组装成一体，大大减化了实验的连线与操作。CH-320A 可单独做恒流源、微伏表使用。用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数，而这些参数是了解半导体材料电学特性必须预先掌控的，因此霍尔效应测试系统是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性必备的工具。 实验结果由软件自动计算得到，可同时得到体载流子浓度(Bulk Carrier Concentration)、表面载流子浓度(Sheet Carrier Concentration)、迁移率(Mobility)、电阻率(Resistivity)、霍尔系数(Hall Coefficient)、磁致电阻(Magnetoresistance)等等。

    넶337 ¥ 0.00

  • CH-60A霍尔效应测试系统

           本仪器系统由电磁铁、电磁铁电源、高精度恒流源、高精度电压表、霍尔效应样品支架、标准样品、系统软件组成。为本仪器系统专门研制的CH-320效应仪将恒流源，六位半微伏表及霍尔测量复杂的切换继电器——开关组装成一体，大大减化了实验的连线与操作。CH-320A可单独做恒流源、微伏表使用。用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数，而这些参数是了解半导体材料电学特性必须预先掌控的，因此霍尔效应测试系统是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性必备的工具。 实验结果由软件自动计算得到，可同时得到体载流子浓度(Bulk Carrier Concentration)、表面载流子浓度(Sheet Carrier Concentration)、迁移率(Mobility)、电阻率(Resistivity)、霍尔系数(Hall Coefficient)、磁致电阻(Magnetoresistance)等等

    넶152 ¥ 0.00

  • CH-70电磁型全自动霍尔效应测试

    本仪器系统由电磁铁、电磁铁电源、高精度恒流源、高精度电压表、高精度源表、矩阵卡、霍尔效应样品支架、标准样品、系统软件组成。为本仪器系统专门研制的CH-320效应仪将恒流源，六位半微伏表及霍尔测量复杂的切换继电器——开关组装成一体，大大减化了实验的连线与操作。CH-320可单独做恒流源、微伏表使用。用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数，而这些参数是了解半导体材料电学特性必须预先掌控的，因此霍尔效应测试系统是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性必备的工具。 实验结果由软件自动计算得到，可同时得到体载流子浓度(Bulk Carrier Concentration)、表面载流子浓度(Sheet Carrier Concentration)、迁移率(Mobility)、电阻率(Resistivity)、霍尔系数(Hall Coefficient)、磁致电阻(Magnetoresistance)等等。

    넶208 ¥ 0.00

  • CH-80A常温霍尔效应测试系统

           本仪器系统由电磁铁、电磁铁电源、高精度恒流源、高精度电压表、霍尔效应样品支架、标准样品，系统软件组成。为本仪器系统专门研制的 CH-320 效应仪将恒流源、六位半微伏表及霍尔测量复杂的切换继电器开关组装成一体，大大减化了实验的连线与操作。
            CH-320A可单独做恒流源、微伏表使用。用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数，而这些参数是了解半导体材料电学特性必须预先掌控的，因此霍尔效应测试系统是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性必备的工具。
           实验结果由软件自动计算得到，可同时得到体载流子浓度(Bulk Carrier Concentration)、表面载流子浓度 (Sheet Carrier Concentration)、迁移率(Mobility)、电阻率(Resistivity)、霍尔系数(Hall Coefficient)、磁致电阻(Magnetoresistance)等等。

    넶108 ¥ 0.00

  • CH-100系列霍尔效应测试系统

           本仪器系统由电磁铁、电磁铁电源、高精度恒流源高精度电压表、霍尔效应样品支架、标准样品、高低温杜瓦，控温仪，系统软件。为本仪器系统专门研制的CH-320效应仪将恒流源，六位半微伏表及霍尔测量复杂的切换继电器开关组装成一体，大大减化了实验的连线与操作。CH-320可单独做恒流源、微伏表使用。用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数，而这些参数是了解半导体材料电学特性必须预先掌控的，因此霍尔效应测试系统是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性必备的工具。 实验结果由软件自动计算得到，可同时得到体载流子浓度(Bulk Carrier Concentration)、表面载流子浓度(Sheet Carrier Concentration)、迁移率(Mobility)、电阻率(Resistivity)、霍尔系数(Hall Coefficient)、磁致电阻(Magnetoresistance)等等。

    넶246 ¥ 0.00

  • CH-200 高低温霍尔效应测试系统

    本仪器系统由电磁铁、电磁铁电源、高精度恒流源、矩阵卡、高精度电压表、霍尔效应样品支架、标准样品、高低温杜瓦，控温仪，系统软件组成用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数，而这些参数是了解半导体材料电学特性必须预先掌控的，因此霍尔效应测试系统是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性必备的工具。实验结果由软件自动计算得到，可同时得到体载流子浓度(Bulk Carrier Concentration)、表面载流子浓度(Sheet Carrier Concentration)、迁移率(Mobility)、电阻率(Resistivity)、霍尔系数(Hall Coefficient)、磁致电阻(Magnetoresistance)等等。

    넶188 ¥ 0.00

  • CH-300电磁型全自动霍尔效应测试系统

           本霍尔效应测试系统由电磁铁、电磁铁电源、高精度恒流源、高精度电压表、高精度源表、矩阵卡、霍尔效应样品支架、三维微型探针台、电视显微镜、标准样品、系统软件组成。用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数，而这些参数是了解半导体材料电学特性必须预先掌控的，因此霍尔效应测试系统是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性必备的工具。可移动微型探针台结合高清晰电视显微镜可根据客户需求测试电极很小的材料参数。 实验结果由软件自动计算得到，可同时得到体载流子浓度(Bulk Carrier Concentration)、表面载流子浓度(Sheet Carrier Concentration)、迁移率(Mobility)、电阻率(Resistivity)、霍尔系数(Hall Coefficient)、磁致电阻(Magnetoresistance)等等。

    넶134 ¥ 0.00

  • CH-300A电磁型全自动霍尔效应测试系统

            本霍尔效应测试系统由电磁铁、电磁铁电源、高精度恒流源、高精度电压表、高精度源表、矩阵卡、霍尔效应样品支架、三维微型探针台、电视显微镜、标准样品、系统软件组成。用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数，而这些参数是了解半导体材料电学特性必须预先掌控的，因此霍尔效应测试系统是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性必备的工具。可移动微型探针台结合高清晰电视显微镜可根据客户需求测试电极很小的材料参数。 实验结果由软件自动计算得到，可同时得到体载流子浓度(Bulk Carrier Concentration)、表面载流子浓度(Sheet Carrier Concentration)、迁移率(Mobility)、电阻率(Resistivity)、霍尔系数(Hall Coefficient)、磁致电阻(Magnetoresistance)等等。

    넶72 ¥ 0.00

  • CH-500高低温霍尔效应测试系统

         本仪器系统由电磁铁、电磁铁电源、高精度恒流源、高精度电压表、霍尔效应样品支架、标准样品、高低温杜瓦，控温仪，系统软件组成。为本仪器系统专门研制的CH-320效应仪将恒流源，六位半微伏表及霍尔测量复杂的切换继电器——开关组装成一体，大大减化了实验的连线与操作。CH-320可单独做恒流源、微伏表使用。用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数，而这些参数是了解半导体材料电学特性必须预先掌控的，因此霍尔效应测试系统是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性必备的工具。实验结果由软件自动计算得到，可同时得到体载流子浓度(Bulk Carrier Concentration)、表面载流子浓度(Sheet Carrier Concentration)、迁移率(Mobility)、电阻率(Resistivity)、霍尔系数(Hall Coefficient)、磁致电阻(Magnetoresistance)等等。

    넶115 ¥ 0.00